JEOL: Neues Schottky-Feldemissionsrasterelektronenmikroskop JSM-IT810 auf dem Markt
30 Julio 2024 - 3:21AM
Business Wire
- Verbesserte betriebliche Effizienz von der
Instrumentenjustierung bis hin zur Beobachtung und Analyse durch
Automationstechnologie -
JEOL Ltd. (TOKYO:6951)(President und CEO: Izumi Oi) meldet den
Marktauftritt des neuen
Schottky-Feldemissionsrasterelektronenmikroskops JSM-IT810 am 28.
Juli 2024. Feldemissionsrasterelektronenmikroskope (FESEM) kommen
in der Wissenschaft und Technik vielfach zum Einsatz,
beispielsweise in Forschungsinstituten, Hochschulen und der
Industrie. Es besteht eine steigende Nachfrage nach einem
Instrument, das von der Beobachtung bis hin zur Analyse einfach,
genau, schnell und effizient benutzt werden kann. Das JSM-IT810
fügt mit „Neo Action“ eine automatische Beobachtungs- und
Analysefunktion sowie eine automatische Kalibrierfunktion zu dem
Modell JSM-IT800 hinzu und ist mit einem elektronenoptischen
Kontrollsystem der nächsten Generation, „Neo Engine“, ausgestattet
sowie mit dem „SEM Center“ für hochwertige Operabilität, wie etwa
Zeromag und EDS-Integration. Dies verbessert nicht nur die
Effizienz und Produktivität, sondern behebt auch einen etwaigen
Arbeitskräftemangel.
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https://www.businesswire.com/news/home/20240729410047/de/
Schottky Field Emission Scanning Electron
Microscope JSM-IT810 (Photo: Business Wire)
Hauptmerkmale
1. Automatische Beobachtungs- und Analysefunktion „Neo Action”
Der Nutzer wählt lediglich die SEM-Bildaufnahmebedingungen und das
Sichtfeld, und die SEM-Beobachtung und EDS-Analyse
(energiedispersive R�ntgenspektroskopie) erfolgen automatisch.
Diese Funktion verbessert die Effizienz von Routineaufgaben,
einschließlich Analysen.
2. Automatische Kalibrierfunktion „automatische SEM-Justierung”
Diese Funktion erm�glicht die automatische Ausführung ausgewählter
Aufgaben bei der Ausrichtungsjustierung, Vergr�ßerungseinstellung
und EDS-Energiekalibrierung.
3. „Live-Funktion” Diese Funktion kann Live-3D, Live-Analysen
und Live-Map-Aufgaben ausführen. 3D-Bilder lassen sich sofort
erstellen, während eine SEM-Beobachtung ausgeführt wird, um
Informationen über Ungleichmäßigkeit und Tiefe zu erhalten. Darüber
hinaus hilft sie dabei, stets charakteristische R�ntgenspektrums-
und elementale Abbildungen zu erstellen.
4. EDS-Integration Beobachtung durch ein SEM und Analyse durch
ein EDS sind miteinander integriert. Analysen von Punkt, Fläche und
MAP k�nnen vom Beobachtungsschirm aus erfolgen. Die Aufnahme von
Windowless EDS-Gather-X erm�glicht die Erkennung von Li und
Analysen mit hoher Empfindlichkeit und hoher Raumaufl�sung.
Jährliches Absatzziel
220 Stück/Jahr
Weiterführender Link
Produktinformationen: Schottky Field Emission Scanning Electron
Microscope JSM-IT810
https://www.jeol.com/products/scientific/sem/JSM-IT810.php
JEOL Ltd. 3-1-2, Musashino, Akishima, Tokio, 196-8558, Japan
Izumi Oi, President & CEO (B�rsenkürzel: 6951, Tokyo Stock
Exchange Prime Market) www.jeol.com
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JEOL Ltd. Science and Measurement Instruments Sales Division
TEL.: +81-3-6262-3567
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